2017 年 2 月 のアーカイブ


Si半導体の結晶欠陥評価のためSECCOエッチングによる可視化技術を確立しました

SECCOエッチングによる結晶欠陥観察事例〉

(当社の特徴)

◇完成品、途中工程品いずれも対応可能

◇きめ細かいエッチング量制御による欠陥発生深さの検証が可能

◇短納期対応可能(~3営業日対応)

株式会社近畿分析センター
滋賀県大津市晴嵐二丁目9番1号
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カテゴリー: 材料分析 | 2017 年 2 月 20 日 月曜日